我公司提供8900的設備改造定制服務。
8900 系統具有與安捷倫市場領先的單四極桿 ICP-MS 系統相同的基質耐受性和穩定性,并與超高效的氦 (He) 碰撞模式相結合。但 8900 系統增加了串聯質譜操作 (ICP-MS/MS),可對碰撞反應池 (CRC) 中的反應化學過程進行精確的控制,使其成為強大、靈活的多元素分析儀。利用 8900 ICP-MS/MS 控制干擾,讓您的結果可靠無疑。
特性
串聯四極桿 ICP-MS 是一種用于元素分析的串聯質譜儀 (MS/MS)。ICP-MS/MS 在碰撞/反應池 (CRC) 前增加了一個額外的四極桿質量過濾器 (Q1),因此質譜干擾問題可以通過反應池氣體和氦氣 (He) 碰撞模式得到解決。為了在單位 (1 u) 質量分辨率下實現高離子傳輸效率,ICP-MS/MS 的兩個四極桿都必須在高真空條件下運行。ICP-MS/MS 尤其適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現成功分析的高級應用。
ICP-MS/MS 使用兩個四極桿質量過濾器對離子進行兩次過濾,Q1 位于 CRC 之前,Q2 位于 CRC 之后。雙重質量過濾 (MS/MS) 能夠控制 CRC 中用于解決質譜重疊干擾的反應過程。Q1 剔除目標分析物質量以外的所有離子,因此只有分析物離子和相同質量的干擾物能夠進入 CRC。反應池氣體將分析物離子與重疊離子分離,且不存在單四極桿 ICP-MS 中可能發生的其他元素或同位素形成新的重疊產物離子的風險
ICP-MS/MS 適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現理想分析的高要求應用。這些應用可能需要極低的檢測限,例如,檢測半導體制程化學品和高純度材料中的超痕量污染物或檢測極小的納米顆粒。ICP-MS/MS 可以利用 MS/MS 消除同量異位素干擾、雙電荷離子干擾、相鄰質量數重疊干擾以及高強度的多原子干擾。這種能力使它可以分析低濃度的非常規分析物,如 Si、P、S、Cl,甚至是 F。
